基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计

摘要：

针对日益增多的变压器绕组变形故障,设计了一种以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103为核心的基于频率响应法的变压器绕组变形测试仪.详细介绍了系统硬件设计方案及软件编程思想.DSP模块负责高速数据采集与运算.ARM模块通过SPI总线与DSP通信,实现测试仪的数据管理、用户界面以及联机通讯.采用数字频率合成技术DDS对待测变压器绕组进行扫频测量.系统采用软件滤波和硬件同步交流采样技术减小测量误差.能够在不对变压器进行吊罩、拆装的情况下进行绕组变形测试,显示高、低压三相绕组频率响应曲线及相关系数R.仿真测试结果表明该装置能够满足变压器绕组变形的测试要求.

关键词：变压器绕组变形、频率响应法、双CPU、DSP、DDS、同步采样、FIR

所属期刊栏目：13

分类号：TM932

在线出版日期：2013-05-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：2503-2508