高量程加速度计测试电路板的可靠性分析

摘要：

测试电路是高量程加速度计的重要组成部分,其抗冲击能力直接影响高量程加速度计的可靠性.在理论分析高量程加速度计测试电路在冲击环境下的失效模式与机理的基础上,运用ANSYS/LS-DYNA对测试电路的抗过载能力进行了模拟仿真.完成了测试电路在0-40 000 9范围内的冲击测试.试验结果发现在19 750 g的冲击下电路失效.并且对电路板的可靠性采用应力-强度干涉模型进行评估.

关键词：ANSYS/LS-DYNA、高量程加速度计、失效、应力-强度干涉模型

所属期刊栏目：12

分类号：TP212(自动化技术及设备)

在线出版日期：2013-02-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：9989-9993