基于FPGA和FT245的芯片功能测试装置的设计与实现

摘要：

设计芯片功能测试装置,以FPGA为控制单元,利用FT245实现FPGA与上位机的通信.上位机发送测试数据,然后采集被测芯片的输出响应并分析.与理论上正确的数据进行比较,得出结论.对于模拟芯片设计了A/D和D/A转换模块,调试的结果表明,测试装置可完成对常用芯片的功能测试.

关键词：FPGA、FT245、数据采集

所属期刊栏目：12

分类号：TN431.2(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60871041

在线出版日期：2013-02-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：9976-9979,9993