用金相法测试偏析层厚度的可行性分析

摘要：

通过与EDX能谱和扫描电镜测试表面偏析层厚度的结果对比分析可知,金相法测试的表面粗大树枝晶组织厚度即为表面区域偏析层厚度.证明了可以用金相法快速、方便地测试偏析层厚度的可行性.此外,用金相法还测出了两种主要偏析元素Mg,Fe形成的FeAl3和Mg2Si相的形态分布.

关键词：偏析层、EDX能谱分析、金相

所属期刊栏目：12

分类号：TG113.213(金属学与热处理)

在线出版日期：2012-12-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：5584-5587,5592