LSSVM在指数寿命型小子样IC寿命预测的应用

摘要：

针对传统寿命预测方法需要大量样本与现代高可靠集成电路(IC)在寿命试验中通常只有少量失效样本的矛盾,提出了基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的指数寿命型小子样IC寿命预测方法.用蒙特卡罗方法研究了该方法在指数寿命型IC寿命预测应用中的可行性.同时与基于神经网络的预测方法相比.结果表明基于LSSVM的方法能更精确地预测小子样下IC的寿命,可为预测指数寿命型小子样IC的寿命提供一种新的有效途径.

关键词：寿命预测、最小二乘支持向量机、集成电路、小子样、指数分布

所属期刊栏目：11

分类号：TN47;TP202(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金项目60776020

在线出版日期：2012-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：5946-5949