一种收发逻辑环回测试方法的设计与实现

摘要：

环回测试通常用于检查和分析芯片收发模块接口电路、内部逻辑以及传输线路物理实现的正确性.逻辑仿真过程中的环回测试主要用来验证收发模块逻辑设计以及环回设计功能的正确性.调试阶段的环回测试能够快速定位传输线路物理实现的故障点,为研制工作节省时间开销和人力成本.介绍了一种优化设计实现的物理层芯片环回设计和测试方法,更加有效地缩短了调试周期.

关键词：环回、发射器、接收器、FPGA、环回寄存器

所属期刊栏目：10

分类号：TP306.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家"863"高技术研究发展计划2008AA01A202

在线出版日期：2010-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2202-2206