一种基于电路自反馈的测试向量产生算法

摘要：

内建自测试(BIST)是可测性设计中常用的方法,其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积.提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法,通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端,由电路自己施加测试向量进行测试.该方法可以减少BIST的面积开销,实现全速测试,同时还能保证较高的故障覆盖率.

关键词：可测性设计、内建自测试、自反馈、测试集、故障覆盖率

所属期刊栏目：8

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2009-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：6244-6247,6252