基于锁相技术的C-V特性测试仪

摘要：

基于锁相技术,提出了一种可行的差分电容测试方法.介绍了通过硬件和软件设计,利用数字锁相放大器model 7225,8051单片机单元等实现电容电压特性(C-V)仪器的自动化测试.实验结果表明,该仪器具有较高的测试性能,灵敏度和信噪比都达到进口成型仪器的水平,并可进行绝对测量和相对测量.

关键词：C-V、差分电桥、锁相、单片机、PDIUSBD12

所属期刊栏目：8

分类号：TN710.2(基本电子电路)

在线出版日期：2008-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：3752-3756