基于检测正确率成败型系统可靠性的近似置信限

摘要：

讨论了检测正确率小于l的情况下,按检测数据由独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性的近似置信下限.利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下,将其折合为原系统的伪试验数和伪成功数;然后,利用单个成败型元件可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值;给出了伪试验数和伪成功数的推导公式,最后给出了模拟计算实例,说明该方法可行.

关键词：串并联系统、并串联系统、检测正确率、可靠性、置信限

所属期刊栏目：8

分类号：O213.2(概率论与数理统计)

在线出版日期：2008-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：476-480