改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计

摘要：

传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点.现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测试时间;用随机测试模式加存储测试模式来提高故障覆盖率.经ISCAS'85标准测试电路验证,新方案取得了令人满意的结果.

关键词：可测性设计、扫描测试、内建自测试、Test-Per-Clock、测试向量压缩

所属期刊栏目：7

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2007-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2825-2829