用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

摘要：

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对.内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销.设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对.实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障.

关键词：IDDT、BIST、测试向量生成器

所属期刊栏目：6

分类号：TN06(一般性问题)

在线出版日期：2006-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：60-63