X射线荧光光谱测定纯铜样品中的痕量杂质元素

摘要：

以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景.用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX-9来测定.开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中18个痕量杂质元素的方法.其分析结果与直读光谱测定值基本相符,回收率在95%～105%范围,各元素的相对标准偏差RSD均小于5.0%.

关键词：纯铜、X射线荧光光谱、基体效应校正、理论α系数、干扰曲线法

所属期刊栏目：3

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2004-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：528-532