一种量产模式同测DRAM芯片数据写入的方法

摘要：

介绍一种量产模式下,同测DRAM(Dynamic Random Access Memory动态随机存储器)芯片数据写入的方法.该方法通过芯片数据通道与测试机台测试寄存器向量之间的动态再分配,将同测DRAM芯片的串行数据写入模式,转换为并行数据写入模式,再通过串并结合的方式实现所有同测芯片的数据写入.该方法能够缩短测试时间,节约测试成本.

关键词：DRAM、量产、数据写入、串行、并行、串并结合

所属期刊栏目：14

分类号：F540.3(陆路、公路运输经济)

在线出版日期：2017-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：152-153