正压检漏法在密封舱整体漏率设计及检测中的应用

摘要：

该文应用罩盒累积提高正压检漏法的检漏灵敏度，应用该检漏方法识别出影响密封舱整体漏率的薄弱环节，针对薄弱环节采取结构形式改进和密封圈材料更换等方法提高对接面处密封性能，从而达到降低密封舱整体漏率的目的。

关键词：密封舱、氦质谱检漏、正压检漏、整体漏率、局部漏率

分类号：V41(基础理论及试验)

在线出版日期：2015-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：159-160,187