10.3969/j.issn.1674-098X.2013.01.015
GaN次接触层对SiC光导开关欧姆接触的改进研究
大功率SiC光导开关存在接触电阻过高、接触退化的问题.为此,在接触金属与sic基片之间增加一层n+-GaN次接触层,光导开关的导通电阻随之下降两个数量级,而光电流效率增加两个数量级.
SiC光导开关、GaN、欧姆接触
TM836(高电压技术)
2013-05-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
29,32
10.3969/j.issn.1674-098X.2013.01.015
SiC光导开关、GaN、欧姆接触
TM836(高电压技术)
2013-05-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
29,32
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn