基于单片机的RCL智能测试仪系统研究

摘要：

利用单片机为核心形成的RCL智能测试仪对电阻、电容、电感元件参数进行实时测量时,可以充分利用单片机的智能运算和控制功能,不仅方便实现测量功能,同时还使测量精度得到有效提高.

关键词：单片机、RCL智能测试仪、振荡电路

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2011-06-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：25-26