单晶硅X射线反射率的量子计算

摘要：

本文用量子力学中的微扰理论分析X射线与电子相互作用原理.发现:X射线进入晶体中,电子吸收X射线后跃迁几率不仅仅与入射光频率有关,而且与电子在原子中空间位置以及状态有关,也与X射线原子之间的距离有关.只有当三者满足一定的关系时,才能获得比较好的反射强度.

关键词：X射线、频率、跃迁几率

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：225-226