基于DEMATEL专利模型的技术影响关系研究

摘要：

提出一种基于DEMATEL模型的技术影响关系研究方法,识别技术间的直接影响关系和间接影响关系,展示单个技术在技术体系中的位置和作用,从而全面了解专利技术间的交叉影响和内部结构.该方法有助于发现大量专利文献数据中有价值的技术模式或规则,理清技术的中心位置和相互影响.开展地质建模专利实证,表明该方法在技术评估中的可行性和有效性.

关键词：专利分析、交叉影响分析、DEMATEL模型、科技创新

所属期刊栏目：40

分类号：F204(国民经济管理)

资助基金：中国科学院文献情报中心青年人才领域前沿个人项目"基于DEMATEL模型的专利技术交叉影响图谱构建方法研究";中国科学院武汉文献情报中心一三五择优项目"面向研究所需求的知识产权分析解决方案"

在线出版日期：2021-02-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：153-159