电子产品老化间温度控制系统的设计

摘要：

针对检验电子产品耐温性能所进行的老化试验时老化问温度的设定,老化时间的控制,异常现象的报警,研究并设计了一种实用电路.该电路测量精度为±0.1℃,控制精度为±1℃,温度控制范围为20℃～100℃.温度测量范围为-40℃～+100℃.

关键词：温度分段控制、四线制PT100测温、单片机

所属期刊栏目：8

分类号：TP273(自动化技术及设备)

在线出版日期：2009-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：35-37