基于灰色理论的继电器电接触可靠性预测
电接触可靠性是有触点电器产品可靠性的一个重要方面,所以评估触点的电接触性能及可靠性和预测其失效时间对提高有触点电器产品的使用可靠性具有重要的应用价值.针对继电器失效原因的复杂性,提出基于灰理论的电接触可靠性预测.通过建立单变量预测模型GM(1,1),较好地预测电接触失效的问题.并且用动态接触电阻测量系统进行HH52P型电磁继电器失效检测试验,证实灰预测模型的准确性.
灰预测模型、继电器、电接触、灰理论、灾变预测模型
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TM588(电器)
国家自然科学基金60771069;中国博士后科学基金20100470779;河北省自然科学基金F2010000151;河北省高等学校科学技术研究重点ZD2010119
2012-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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