短波长X射线衍射法测试纳米铝块体的内部残余应力

摘要：

利用自主研发的 SWXRD-1000型短波长 X射线衍射仪对去应力热处理前后纳米铝块体的内部残余应力进行了测试；为研究残余应力沿试样厚度方向的分布,采用 Xstress-3000型 X射线应力仪对未热处理的纳米铝块体表面残余应力进行了测试。结果表明：纳米铝块体内部的晶粒取向分布均匀；随着热处理温度升高,块体中心处的残余应力呈下降的趋势,中心处的径向残余应力由未热处理时的113 MPa降至4 MPa,切向残余应力由未热处理时的91 MPa降至38 MPa；未热处理试样厚度方向上的残余应力分布整体呈为外压内拉,直径方向上的内部残余应力呈现出中间高两侧低的分布趋势,且中心附近为残余拉应力。

关键词：纳米铝块体、短波长X射线衍射、无损检测、内部残余应力

分类号：TG115.22;TG166(金属学与热处理)

资助基金：国家高技术研究发展计划项目2009AA03Z539;科技部重大科学仪器设备开发专项项目2012YQ130234;国家自然科学基金资助项目51275037

在线出版日期：2016-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：97-100