新生儿低血糖脑损伤临床与磁共振特征

摘要：

目的:探讨和分析新生儿低血糖脑损伤患儿临床特征与磁共振特征.方法:此次抽取2016年3月-2017年8月在我院医治的新生儿低血糖患儿(70例)进行研究,根据是否脑损伤分为乙组、甲组,每组35例.甲组存在脑损伤,而乙组未发生脑损伤,本次患儿均进行磁共振检查,总结临床表现和磁共振特征以及血糖情况.结果:甲组患儿的低血糖持续时间长于乙组患儿,差异显著.甲组患儿的最低血糖值低于乙组患儿,差异显著.甲组患儿都存在神经系统症状,而乙组患儿只有部分存在神经系统症状.甲组患儿的受累部位主要是顶枕叶、枕叶顶叶.首次检查的表现是受损部位扩散加权像高信号,而T1加权想(高信号或者低信号)和T2加权想(高信号、正常信号或者低信号).结论:在新生儿低血糖脑损伤患儿中,其低血糖的持续时间越长、血糖值越低,其脑损伤就越严重,应结合临床表现和磁共振进行诊断.

关键词：新生儿、低血糖、脑损伤、磁共振、特征

分类号：R722.1(儿科学)

在线出版日期：2019-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：82