磁敏感加权成像对脑弥漫性轴索损伤的诊断价值

摘要：

目的 探讨磁敏感加权成像(SWI)序列在脑弥漫性轴索损伤(DAI)中的诊断价值.方法 25例临床高度怀疑或已经确诊为DAI的脑外伤患者,CT检查未发现明显异常或者损伤灶不位于典型部位,继而进行MRI检查.先行SWI检查后再行常规MR(T2WI、T1WI、DWI或FLAIRT2WI)检查.分析SWI图像特点,比较SWI与常规MR序列对弥漫性轴索损伤病变的显示情况.结果 SWI对于病灶数目的检出率明显高于常规MR序列.结论 SWI序列的应用大大提高了DAI病灶的检出率,为临床早期诊断提供更加可靠的影像学依据.

关键词：磁敏感加权成像、弥漫性轴索损伤

所属期刊栏目：38

分类号：R445.2(诊断学)

资助基金：南京医科大学科技发展基金重点项目08NMUZ054

在线出版日期：2012-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：43-45