基于计算机视觉的嵌入式数字IC芯片引脚缺陷检测方法

摘要：

针对芯片引脚缺陷故障难以精准检测的现状,提出基于计算机视觉的嵌入式数字IC芯片引脚缺陷检测方法.采用计算机视觉技术计算相机水平方向的像素,采集嵌入式数字IC芯片引脚图像;对引脚图像进行图像预处理、引脚缺陷特征提取及缺陷定位处理;计算芯片引脚长度均值,以引脚长度均值为依据进行缺陷检测.试验结果表明:该检测方法在芯片引脚缺失、歪脚、不合格等方面检测结果的准确率得到了显著提高.

关键词：计算机视觉、嵌入式数字IC芯片、引脚缺陷检测、缺陷特征提取

所属期刊栏目：30

分类号：TP391.41;TN911.73;TP274.5

在线出版日期：2023-09-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：56-59,64