TEM 精确测定无理择优界面取向
本文介绍了一种应用透射电镜(TEM)的电子衍射菊池花样来精确测量无理择优界面取向的方法.根据误差分析的结果,该方法从提高测量精度和增大界面矢量间夹角两方面出发,分别测量界面迹线和直立(edge-on)取向,计算无理择优界面的取向.相对其它方法,该方法将测量误差的影响降到最小,其计算结果分布集中,收敛性最好.
界面取向、界面迹线、菊池花样、直立取向
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O46(真空电子学(电子物理学))
国家自然科学基金项目50671051;高等学校博士学科点专项科研基金项目20050003005
2010-09-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
411-417