10.3321/j.issn:0412-1961.2002.05.001
Au/NiCr/Ta多层金属膜的表面粗糙度和纳米压入硬度的研究
采用磁控溅射方法在Si-(111)基片上沉积 Au/NiCr/Ta多层金属膜利用XRD分析晶体取向,SEM观察表面和断面形貌,AFM研究表面粗糙度,纳米压入研究薄膜硬度.结果表明薄膜表面粗糙度依赖于基体沉积温度,并且影响薄膜电阻和纳米硬度.
Au/NiCr/Ta多层膜、表面粗糙度、纳米压入
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TB302(工程材料学)
国家自然科学基金59931010;中-法合作项目PRA MX9906
2004-08-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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449-452