减少自反馈测试硬件代价的两种方法

摘要：

由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点“反馈”连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率.

关键词：集成电路测试、测试向量、故障效率、内建自测试、路径搜索

所属期刊栏目：49

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金项目60773207,60673085;中国科学院计算机系统结构重点实验室开放性课题基金

在线出版日期：2012-07-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：880-886