超大规模集成电路可调试性设计综述

摘要：

随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试性设计已经成为集成电路设计中的重要内容.一方面,仅靠传统的硅前验证已经无法保证现代超大规模复杂集成电路设计验证的质量,因此作为硅后验证重要支撑技术的可调试性设计日渐成为大规模集成电路设计领域的研究热点.另一方面,并行程序的调试非常困难,很多细微的bug无法直接用传统的单步、断点等方法进行调试,如果没有专门的硬件支持,需要耗费极大的人力和物力.全面分析了现有的可调试性设计,在此基础上归纳总结了可调试性设计技术的主要研究方向并介绍了各个方向的研究进展,深入探讨了可调试性结构设计研究中的热点问题及其产生根源,给出了可调试性结构设计领域的发展趋势.

关键词：调试、验证、硅后验证、并行程序调试、可调试性设计

所属期刊栏目：49

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金："核高基"国家科技重大专项基金项目2009EX01028-002 003,2009EX01029-001-003;国家自然科学基金项目60921002,61003064,61050002,61070025,61100163,61133004,61173001

在线出版日期：2012-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共14页

页码：21-34