用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究

摘要：

全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不但可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.

关键词：全速电流测试、瞬态电流测试、微处理器测试、指令序列

所属期刊栏目：44

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金60173042

在线出版日期：2007-04-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：479-486