基于模糊C均值聚类的软件多缺陷定位方法
缺陷间的相互干扰会使程序的频谱信息和运行结果发生变化,进而影响基于频谱信息的缺陷定位方法(SBFL)的有效性.本文对缺陷干扰现象进行了研究,通过分析单缺陷程序与多缺陷程序在缺陷运行、感染和传播过程及程序运行结果间的差异定义了两类缺陷干扰,并根据干扰前后缺陷在互斥子集中的分布变化分析了缺陷干扰对SBFL方法有效性的影响.研究结果表明:与特定缺陷无关的失败测试用例是降低SBFL方法缺陷定位有效性的主要原因.在此基础上,本文提出了一种基于模糊C均值聚类的多缺陷定位方法FCMFL:首先,通过模糊C均值聚类分析失败测试用例与不同缺陷间的隶属关系,得到每个缺陷相关的失败测试信息;其次,基于隶属度矩阵加权计算每条语…展开v
程序调试、缺陷定位、程序切片、缺陷干扰、模糊聚类
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TP311(计算技术、计算机技术)
本课题得到国家自然科学基金;江苏省博士后科研资助计划;计算机软件新技术国家重点实验室创新项目;广西可信软件重点实验室研究课题
2020-05-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共27页
206-232