一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法

摘要：

纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算中的优势与不足,文中提出了宏门的概念和以宏门为单位的迭代概率转移矩阵模型,并设计了相应的电路可靠性评估算法,可计算从原始输入到任意引线位置的电路可靠度,该算法的复杂性与宏门的数目成线性关系.理论分析与在74系列电路和ISCAS85基准电路上的实验结果证明了文中所提方法的准确性、有效性及潜在的应用价值.

关键词：门级电路可靠性评估、宏门、逻辑划分、概率方法、迭代概率转移矩阵模型

所属期刊栏目：37

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

资助基金：the National Key Basic Research and Development Program 973 Program of China under Grant No.2005CB321604,and by the National Natural Science Foundation of China under Grant No.60903033.本课题得到国家自然科学基金60903033;国家“九七三”重点基础研究发展规划项目基金2005CB321604

在线出版日期：2014-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共13页

页码：1508-1520