基于微指令覆盖的最小指令集测试算法

摘要：

着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度.首先,依据指令的表示模型,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的.然后,通过定义指令的测试代价和测试效率,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法.最后,将算法应用于NRS4000微处理器的功能测试,仅为传统的全指令集测试序列的37.7%.

关键词：微处理器、功能测试、微指令、最小覆盖

所属期刊栏目：23

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家预研基金8.1.2.8;航空基金97F53056

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1083-1087