基于PTM模型与BN模型的电路可靠性计算方法比较

摘要：

现代工艺的发展使得集成电路在获得高性能的同时,也更容易受到软差错的影响.针对软差错影响下电路的可靠性问题,选取了二种典型的基于条件概率理论的门级评估方法:BN方法和PTM方法,分别介绍了其原理,并结合实验分析了它们各自的功能、适用范围以及复杂度,且指出了下一步的研究思路.

关键词：BN方法、PTM方法、基本门电路、电路可靠性

所属期刊栏目：42

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2015-09-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：115-117,133