一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法

摘要：

提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法.对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到ROM中.为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩.实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试.

关键词：聚类压缩、移位压缩、内建自测试、测试激励

所属期刊栏目：41

分类号：TP306.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金项目61073035

在线出版日期：2014-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：33-36