存储系统负载自相似性研究综述

摘要：

I/O突发是造成I/O瓶颈的一个主要原因,研究I/O负载中普遍存在的突发性并对负载进行精确合成,对存储系统设计及其性能评价具有重要意义.对实际I/O负载的研究表明,传统的泊松假定难以准确地描述长时间范围内的I/O突发行为.研究发现,I/O突发在不同时间尺度下具有相似性,即I/O负载具有自相似性,因此,自相似模型被用来刻画I/O负载中的长相关性.针对I/O负载自相似参数估计,总结了各种常用的时域和频域估值方法.着重对已有的I/O负载合成模型进行了剖析,讨论了各种自相似模型、多分形模型以及alpha稳定模型的特点.探讨了有待解决的开放性问题,并对I/O负载自相似性研究的发展趋势进行了展望.上述工作将对存储负载的自相似性研究提供有益参考.

关键词：存储系统、I/O负载、自相似性

所属期刊栏目：40

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家科技支撑计划资助项目2012BAD35B08;中央高校基本科研业务费专项资金资助项目XDJK2012A006;重庆市自然科学基金项目2011BB2008;西南大学博士基金资助项目SWU111015

在线出版日期：2013-04-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：24-30