基于颜色直方图的电路板表面缺陷检测

摘要：

为了提高废旧电路板的回收再利用率,针对回收电路板常见表面缺陷,在均匀分块基础上,提出了四叉树分裂颜色直方图缺陷检测方法.该方法能快速定位电路板表面缺陷,并通过支持向量机(SVM)实现缺陷分类,进而为电路板的二次利用提供质量保障.重点分析了分块大小与判断阈值对缺陷定位结果的影响,在保证检测精度的同时,检测速度相比均匀分块方法得到明显提升.与Faster-RCNN网络方法进行对比,结果表明该方法定位效果好,分类准确率平均达81％.

关键词：机器视觉、二次利用电路板、表面缺陷检测、颜色直方图、四叉树分裂

所属期刊栏目：30

分类号：TP391.4(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2024-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：2296-2305