考虑逻辑门延时的冗余固定故障检测方法

摘要：

提出利用瞬态电流测试(IDDT Testing)方法检测数字电路中的冗余固定故障.检测时采用双向量模式,充分考虑逻辑门的延时特性.针对两类不同的冗余固定故障,分别给出了激活故障的算法,在此基础上再对故障效应进行传播.SPICE模拟实验结果表明,该方法能有效地区分正常电路与存在冗余故障的电路,可以作为电压测试方法的一种有益的补充.

关键词：冗余固定故障、瞬态电流、时延、跳变

所属期刊栏目：48

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金60773207;湖南省大学生创新实验基金2010-224-114

在线出版日期：2012-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：68-71