一种快速的多线宽直线反走样算法

摘要：

对于直线绘制中出现的锯齿现象称为走样,消除走样的方法称为反走样,通过对直线走样产生的原因进行理论上的分析,了现有的反走样技术.通过对经典的DDA直线绘制算法和Wu直线反走样绘制算法的研究,在二者结合的基础上,给出了一种任意宽度和复杂背景色下的直线反走样快速绘制算法:对于直线f(x) =mx+b,0≤m≤l,x轴上每移动一个像素单位,根据直线所需绘制的宽度,在y轴上进行跨度像素着色,填充的色深取决于该像素到对应直线边缘线的距离、原有背景色和当前直线绘制色.对算法进行了去浮点优化,给出了复杂度分析和实验结果.实践证明,该算法有很好的执行效率和反走样效果.

关键词：直线绘制、反走样、数值微分分析法(DDA)、快速

所属期刊栏目：47

分类号：TP391.72(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金the National Natural Science Foundation of China under Grant 40771165

在线出版日期：2012-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：188-190