面向系统芯片测试的微处理器结构没计

摘要：

采用内嵌微处理器作为测试控制器来测试系统芯片可以提高测试精度和速度,降低测试成本.提出在微处理器结构上做改进,设计了测试数据接口和测试数据解压单元,可以对SOC测试起支持作用.实验结果表明所增加的硬件在电路面积上可接受,对电路性能没有影响,而且对微处理器的正常功能没有任何影响.

关键词：系统芯片、测试、微处理器、结构

所属期刊栏目：45

分类号：TP303(计算技术、计算机技术)

资助基金：陕西省自然科学基金the Natural Science Foundation ofShaanxi Pmvlnee of China under Grant 2005F47

在线出版日期：2009-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：81-83,89