基于几何统计特征的印鉴自动识别算法

摘要：

提出一种基于几何统计特征的印鉴识别方法.待检印鉴图像经预处理并二值化后,依据样本印鉴匹配求得对应的差矩阵,再根据笔划差异在空间分布上的对应规律将差异点在矩阵中进行搜索和特征统计并抽取出三维的特征向量作为图像的主要差异特征并送入三层BP神经网络进行判决.该方法对印痕进行了结构化分析处理,能够区分盖印条件和伪造印鉴造成的误差.实验结果表明该方法同时具备同类印鉴的鲁棒性和异类印鉴的可靠性.

关键词：印鉴识别、特征提取、模式识别、几何统计

所属期刊栏目：41

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：上海市科委资助项目04JC14014

在线出版日期：2005-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：4-6