微处理器浮点运算功能的测试方法研究

摘要：

该文给出了一种微处理器浮点运算功能的测试方法，该方法的测试工作量少、测试时间短，而同时又具有较高的测试覆盖率。工程实践表明，该方法确实是一种可行的、有效的功能测试方法。

关键词：微处理器功能测试方法浮点运算测试覆盖率

所属期刊栏目：37

分类号：TP368.1(计算技术、计算机技术)

资助基金：教育部优秀青年教师资助计划

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：42-43,46