通过电源完整性分析和电迁移修复提高供电网络可靠性

摘要：

电迁移是集成电路供电网络的关键失效因素,由于芯片集成度和电流密度的增加,供电网络设计留给电迁移优化的余量越来越小.供电网络的传统设计缺乏电迁移和电压降的综合分析,会造成设计的过度约束.为避免上述问题,提出一种基于通孔灵敏度分析的供电网络优化方法.首先,通过伴随矩阵的方法验证通孔的灵敏度对电迁移和电压降的影响;然后,结合供电网络的结构,针对关键通孔制定梯度优化策略,避免电迁移过度优化;最后,采用配置通孔阵列结构的方法提高通孔的可靠性.所提分析方法基于32核服务器实现,并通过IBM benchmark进行验证.实验结果表明,与全通孔优化的策略比较,所提方法以极小的面积代价实现电迁移优化,并且协同优化后,电路不存在电压降违规.

关键词：电迁移优化、可靠性、通孔阵列、供电网络

所属期刊栏目：34

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;国家重点研发计划

在线出版日期：2022-05-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：499-506