基于分布式游标法的2.5D IC传输线测试

摘要：

为解决现有2.5DIC传输线测试方法适用性差、面积开销大和分辨率不稳定等问题提出基于分布式游标法的传输线测试方法.首先根据传输线的数量和分布情况择优选择普通游标和环形游标2种游标结构;然后把游标延时线的所有延时单元平均分配给每条传输线使所有传输线共享一条游标延时线;最后将传输线延时量化为数字码输出.实验结果表明与现有方法相比文中方法综合考虑了测试时间和面积开销满足了复杂集成电路设计的实际需要;使用2种游标结构的分布式测试方法面积开销分别减少了52.6%和23.7%;在相邻传输线间距离发生变化时测试分辨率的稳定性提高了70%.

关键词：2.5DIC、传输线、硅通孔、重分布层、游标法

所属期刊栏目：29

分类号：TP306+.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61674048, 61574052, 61371025, 61474036

在线出版日期：2017-11-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1935-1940