考虑输入占空比和随机性的M-IVC缓解电路老化

摘要：

针对现有多输入向量控制(M-IVC)缓解负偏置温度不稳定性(NBTI)引起的电路老化的方法仅考虑到输入信号占空比约束的问题,提出一种同时优化输入信号占空比和随机性的M-IVC方法.首先采用遗传算法求解出电路的最优输入占空比;然后在最优占空比约束下产生具有随机性的各输入信号波形;最后构成多输入控制向量,依次应用到待机模式下电路的输入.采用相同的晶体管工艺模型和ISCAS85基准电路的实验结果表明,与现有M-IVC方法相比,文中方法能更好地缓解电路NBTI老化;可降低电路平均老化时延增量,分别达到45.9%和32.7%;而且随着电路待机时间的增加,该方法的抗老化效果变得越好.

关键词：负偏置温度不稳定性、多输入向量控制、输入波形、最优占空比、随机性

所属期刊栏目：29

分类号：TP391.72(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61371025, 61574052, 61474036

在线出版日期：2017-06-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：968-976