"多塔"3D-SIC的量子粒子群测试调度方法

摘要：

针对"多塔"结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行解,产生具有量子行为的新粒子,并更新粒子群;然后进行粒子群的迭代进化以获取全局最优解.最小化"终堆"测试时间和集成过程总测试的调度结果均表明,该方法可显著地缩短测试时间;当复杂晶片集成在3D-SIC底层时,"终堆"测试时间较短,而集成过程的总测试时间较长.

关键词："多塔"3D-SIC、量子粒子群优化、测试调度、"部分堆"、"终堆"

所属期刊栏目：29

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家"九七三"重点基础研究发展计划项目2015CB057201;广东省自然科学基金2015A030313147;广东省科技计划项目2014B090913001;长城学者培养计划CIT&TCD20150320

在线出版日期：2017-03-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共15页

页码：196-210