可编程器件的选择性双模冗余加固方法

摘要：

针对现有 FPGA 加固方法开销过大的问题, 提出一种利用逻辑门对故障的屏蔽效应进行选择性加固的双模冗余方法. 首先建立待加固电路的查找表结构模型, 根据故障的传播概率按电路结构依次计算每个查找表的故障敏感度; 然后将故障敏感度高的查找表进行双模冗余, 并根据要屏蔽的故障类型在冗余后的查找表输出端添加"与", "或"逻辑进行表决;最后对加固后的电路进行故障注入,验证加固效果.对MCNC测试集电路的实验结果表明,与现有方法相比, 在同等开销下, 文中方法对故障的屏蔽效果更显著; 全冗余时, 该方法可将故障平均减少 84.3%, 对于apex2, spla等大电路则能减少超过97%.

关键词：FPGA、容错、双模冗余、故障敏感度

所属期刊栏目：28

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61073035

在线出版日期：2016-04-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：355-362