SRAM型FPGA的基于可观性度量的选择性三模冗余方法

摘要：

为了增强SRAM型FPGA抗单粒子翻转破坏的能力并减少硬件开销, 提出一种面向查找表的基于可观性度量的选择性三模冗余方法. 首先定义查找表发生单粒子翻转(SEU)故障的一种可观性概念, 并结合概念给出理论计算公式; 然后根据计算出的查找表可观性分布筛选出 SEU 敏感查找表; 最后插入相应的冗余电路. 此方法能够以较小的冗余比例, 使得电路的抗SEU性能接近全三模冗余的效果. 对MCNC'91的18个规模不同的电路进行实验的结果表明, 文中方法平均只需要冗余 37% 的查找表, 并且冗余后电路的抗 SEU 性能为 92.6%, 相比全三模冗余节省了63% 的硬件开销, 说明该方法能够在有效地提高电路的抗SEU性能前提下取得显著的硬件节省效果.

关键词：FPGA、三模冗余、单粒子翻转、可观性、MCNC

所属期刊栏目：27

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61073035

在线出版日期：2015-11-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：2184-2191