逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法

摘要：

针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题，提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法。该方法采用转换故障模型，利用 ATPG 手段生成备选的输入矢量集合；为提高功耗权重计算的精确性，对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析；根据逻辑仿真结果，引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗；以哈密尔顿回路为模型，采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取。在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明，文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量，起到了功耗均匀化的效果。

关键词：老化试验、自动测试矢量生成、转换故障、功耗权重

分类号：TN470;TP806(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家“九七三”重点基础研究发展计划项目2015CB057201;国家自然科学基金61006032;广东省自然科学基金S2011010001234;深圳市科技计划JCYJ20140417144423194, JCYJ20140417144423198

在线出版日期：2015-01-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：184-191