BIST测试激励的聚类压缩方法

摘要：

测试激励压缩方案能减少内建自测试(BIST)电路的存储硬件开销,适合超大规模集成电路的测试.将聚类压缩与循环移位压缩和输入精简压缩巧妙结合,提出一种针对BIST的测试激励聚类压缩方法.首先将难测向量进行x方向输入精简;然后以贪心选择的方法进行y方向聚类压缩,即将测试向量集划分成几个子集,每个子集只存储一个种子向量;最后将聚类后的种子向量集进行z方向移位压缩,将最终的种子向量存储到BIST电路中.测试时,解压电路通过对种子向量进行解压得到全部的难测向量.理论分析和实验结果表明,通过增加相对很少的硬件开销构建聚类移位输入精简解压电路能够产生较高的测试数据压缩率,减少测试向量存储单元,且能以芯片频率进行测试,其中对电路s38584的压缩率高达99.87％.

关键词：内建自测试、聚类压缩、贪心算法、输入精简、移位压缩

所属期刊栏目：26

分类号：TP306.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61073035

在线出版日期：2014-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：983-990