面向缺陷分析的广义门电路故障概率的计算

摘要：

在门级电路的可靠度估计方法中,基本门故障概率p通常是以经验值或人为设定的方式出现,最近才被建模成栅氧化层的故障概率或基本门的输入导线的故障概率.文中结合广义门电路的版图结构信息,分析了故障的形成机理与作用模式、广义门电路的拓扑结构和可靠度的损失机理,并给出了输入导线与栅氧化层的缺陷随时间的生长模型以及缺陷移除率的计算方法,最后建立了包含老化或早期失效的广义门电路的故障概率p模型,通过理论分析与在ISCAS85基准电路上采用经验公式对预测结果进行了拟合,并运用拟合优度检验的策略验证了文中方法的合理性；还分析了老化因素、缺陷移除率、工艺技术、设计方法等对电路可靠度的影响.

关键词：缺陷的生长与移除、广义门电路、版图结构、拓扑结构、故障概率、门级电路的可靠性

所属期刊栏目：25

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金60903033;国家"九七三"重点基础研究发展计划项目2005CB321604

在线出版日期：2013-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：564-572